儀器設備
廠牌：ULVAC-PHI
型號：PHI TRIFT IV
配備：
1.一次離子槍
2.三次電磁鐵聚焦質量分析儀
3.高真空系統
4.WinCadence4.7影像處理軟體
5. 飛行時間式二次離子質譜儀使用規範
6. 作業用途
表面質譜：全質譜掃描分析表面成分
質譜影像分佈：分析特定分子或離子在表面的分佈情況
縱深分析：分析特定元素在縱向深度的分布情況
大區域分析(長寬500um以上)、縱向深度超過2uM、三維分佈。
設備地點
教研大樓地下一樓，貴重儀器室。
開放時間
學期中:週一至週五，09：00至17：00。
寒暑假:週一至週五，09：00至17：00。
申請及使用辦法
1.請於共儀中新儀器預約系統線上填寫TOF-SIMS申請單，並請指導教授至預約系統線上批核。
2.共同儀器中心審核通過後，由操作人員聯絡安排預約上機時間。
3.若因故未能於一天前送達樣品，請務必事先告知，由技術人員代為取消實驗，否則以原預約時數計費。
4.送測之樣品，不符實驗安全規則者，將停止使用權利三個月。
5.若技術人員判斷送測樣品，可能導致儀器無法分析，將有權停止分析。
樣品製備要求：
1.使用者需自行處理樣品以符合規格。
2.樣品需為固體且乾燥無水，不能有粉末飄散。
3.基底面積直徑小於2公分，厚度小於0.3公分。
4.不得具有永磁性、爆炸性、易燃性、腐蝕性、輻射性、毒性和揮發性。
5.每一樣品需分別裝在樣品盒中，盒外註明樣品名稱或編號，樣品背面請勿黏貼黏性物質固定。
6.基底材質最好是導電度極佳的材質(如矽晶片)。
收費標準
(一)校內收費標準：
聯絡單位
共同儀器中心管理人員：李啟鳴先生 #2632