敬邀參加113學年度飛行時間式二次離子質譜儀實務應用研討會
2024/05/07 09:45
敬邀參加113學年度飛行時間式二次離子質譜儀實務應用研討會
TOF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer) Seminar
課程時間 Time：113年6月4日(二)10:00-10:50(材料應用)
11:00-11:50(生醫應用)
課程地點 Location：君蔚樓二樓會議室 Dream building 2F
報名截止日期 Registration deadlines：113年6月3日(一)
報名請點最下方"XMS報名連結"
For registration, press the button below the poster
TOFSIMS 動畫介紹
TOF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer) Seminar
課程時間 Time：113年6月4日(二)10:00-10:50(材料應用)
11:00-11:50(生醫應用)
課程地點 Location：君蔚樓二樓會議室 Dream building 2F
報名截止日期 Registration deadlines：113年6月3日(一)
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