敬邀參加111學年度飛行時間式二次離子質譜儀實務應用研討會
2022/09/30 10:26
敬邀參加111學年度飛行時間式二次離子質譜儀實務應用研討會
TOF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer) Seminar
課程時間 Time：111年10月31日(一)10:00-10:50(中文)
11:00-11:50(English)
課程地點 Location：United Medical Building (Back Building) 16F & Online
報名截止日期 Registration deadlines：111年10月28日(五)
線上同步會議連結 Online Seminar Link：https://meet.google.com/bgu-gwpp-eww
TOFSIMS 動畫介紹
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Registration Link
